Opter obtuvo patentes relacionadas con módulos de detección de fuentes de luz, y la fuente de luz y el módulo pueden detectar piezas de alta reflectividad ajustando el ángulo de la apertura mediante un diafragma.

El 3 de abril, según la información de la Oficina Estatal de Propiedad Intelectual, Guangdong Optr Technnology Co., Ltd. presentó una patente denominada “Un sistema de fuente de luz y módulo de inspección visual”, con número de anuncio de patente concedida CN224065320U, y fecha de anuncio de concesión el 31 de marzo de 2026. El número de solicitud es CN202520800670.5, la fecha de publicación de la solicitud es el 31 de marzo de 2026, la fecha de solicitud es el 24 de abril de 2025. Los inventores son Li Yangtao y Ye Guanpeng. La agencia de patentes es Beijing Xin Hao Lian De Patent Agency (Sociedad General Limitada), el agente de patentes es Yang Qingqing. Los códigos de clasificación son F21V5/04, G01N21/01, G01N21/88, F21V11/08, F21V17/02, F21V14/08, G03B15/02.

El resumen de la patente indica que este modelo de utilidad se relaciona con el campo de la tecnología de estructuras de fuentes de luz, y da a conocer una fuente de luz y un módulo de inspección visual que incluyen un tubo de soporte, una placa de lámparas emisoras de luz, un diafragma y un conjunto de lentes de concentración; el diámetro del orificio del diafragma es ajustable. Tanto el diafragma como el conjunto de lentes de concentración están instalados en el tubo de soporte. La placa de lámparas emisoras de luz está instalada en un extremo del tubo de soporte para emitir luz hacia el lado del diafragma, y el conjunto de lentes de concentración está instalado en el lado del diafragma alejado de la placa de lámparas emisoras de luz. La línea central del tubo de soporte, la línea central del diafragma y la línea central del conjunto de lentes de concentración coinciden entre sí. El módulo de fuente de luz y de inspección visual de este modelo de utilidad puede cambiar el ángulo de emisión de luz mediante el diafragma, y puede satisfacer las necesidades de inspección de piezas con alta reflectividad.

Optr se fundó el 24 de marzo de 2006, y cotizó en la Bolsa de Valores de Shanghái el 31 de diciembre de 2020. Su domicilio social y su oficina están en la ciudad de Dongguan, provincia de Guangdong. Es una empresa líder en el sector de visión artificial en China, con productos principales de software y hardware para visión artificial, que cuentan con barreras técnicas profundas y un valor de inversión destacado.

Optr se dedica principalmente al desarrollo, producción y venta de productos principales de software y hardware para visión artificial; el sector al que pertenece en Shenwan es Maquinaria y equipo - Equipos de automatización - Otros equipos de automatización. El bloque de conceptos incluye acciones market makers del tablero de la Kechuangban, redes neuronales y visión artificial.

En 2025, el ingreso operativo de Optr fue de 1,269 millones de yuanes, ocupando el puesto 2 entre 5 empresas del sector, por encima del promedio del sector de 996 millones de yuanes y de la mediana de 950 millones de yuanes, solo superada por 2,106 millones de yuanes de Bei Zi Ke Ji. En cuanto a su negocio principal, los ingresos por visión artificial fueron de 960 millones de yuanes, representando el 75.66%; accesorios de visión artificial 173 millones de yuanes, representando el 13.66%; productos de control de movimiento 135 millones de yuanes, representando el 10.64%; otros (complemento) 615.4k yuanes, representando el 0.05%. En cuanto a la utilidad neta, en 2025 Optr obtuvo 192 millones de yuanes, ocupando el puesto 1 en el sector, por encima del promedio del sector de 26.93 millones de yuanes y de la mediana de 112 millones de yuanes, superando a la segunda empresa Bei Zi Ke Ji, que tuvo 172 millones de yuanes.

La situación reciente de patentes de Guangdong Optr Technology Co., Ltd. es la siguiente:

No. Nombre de la patente Tipo de patente Estado legal Número de solicitud Fecha de solicitud Número de publicación (anuncio) Fecha de publicación (anuncio) Inventor
1 Un método geométrico de corrección, un sistema, un medio legible por computadora y un producto de programa informático para la calibración geométrica de una cámara de barrido lineal basada en la distorsión elíptica de agujeros circulares Patente de invención Publicado CN202610190099.9 2026-02-09 CN121724877A 2026-03-24 Pan Wei, Cao Ling, Ye Guanpeng, Lu Shenglin
2 Una fuente de luz combinada y un robot de detección Patente de invención Publicado CN202512059793.5 2025-12-31 CN121676910A 2026-03-17 Zhang Zihao, Ye Guanpeng, Liu Ying
3 Una fuente de luz de inspección y un dispositivo de inspección para un sustrato semiconductor Patente de invención Publicado CN202512059879.8 2025-12-31 CN121729051A 2026-03-24 Zhang Zihao, Ye Guanpeng, Liu Ying
4 Un dispositivo de prueba de cámaras Patente de invención Examen sustantivo: vigente, publicación CN202512040423.7 2025-12-30 CN121486559A 2026-02-06 Li Junhui, Ye Guanpeng
5 Un microscopio objetivo y su sistema óptico de 50X con larga distancia de trabajo para inspección industrial Patente de invención Examen sustantivo: vigente, publicación CN202512005878.5 2025-12-29 CN121454755A 2026-02-03 Zeng Zhenhuang, Chen Jianwei, Ye Guanpeng, Lin Jiamin, Lu Shenglin
6 Método para la construcción de características de la postura de una plantilla, sistema y medio legible por computadora Patente de invención Publicado CN202511987637.9 2025-12-25 CN121767413A 2026-03-31 Zhong Hongyan, Pan Wei, Cao Ling, Huang Wei, Tang Yaru, Lu Shenglin
7 Un método de coincidencia tridimensional basado en características de alta curvatura Patente de invención Publicado CN202511914294.3 2025-12-17 CN121708097A 2026-03-20 Pan Wei, Tang Yaru, He Siyuan, Chen Lizhe, Cao Ling
8 Un método para calcular trayectorias de soldadura basado en registro de nubes de puntos Patente de invención Publicado CN202511904632.5 2025-12-16 CN121670144A 2026-03-17 He Siyuan, Pan Wei, Tang Yaru, Qiu Jiajun, Cao Ling
9 Un método de análisis de dominios conexos paralelizado basado en marcadores de vecindad, equipo informático y medio de almacenamiento Patente de invención Publicado CN202511892999.X 2025-12-15 CN121707810A 2026-03-20 Yu Zihong, Pan Wei, Weng Jianbo, Tang Quan, Cao Ling
10 Un dispositivo de inspección visual y una línea de producción Patente de invención Examen sustantivo: vigente, publicación CN202511855395.8 2025-12-10 CN121453667A 2026-02-03 Zhong Chao
11 Un dispositivo de detección de defectos y un robot de detección de defectos Patente de invención Examen sustantivo: vigente, publicación CN202511844600.0 2025-12-08 CN121275772A 2026-01-06 Yuan Qiyu
12 Una fuente de luz combinada Patente de invención Examen sustantivo: vigente, publicación CN202511795399.1 2025-12-01 CN121520557A 2026-02-13 Zhang Zihao
13 Método para la construcción de características de la postura de una plantilla, sistema y medio legible por computadora Patente de invención Examen sustantivo: vigente, publicación CN202511688576.6 2025-11-17 CN121391940A 2026-01-23 Zhong Hongyan, Pan Wei, Cao Ling, Huang Wei, Tang Yaru, Lu Shenglin
14 Sistema óptico y objetivo microscópico para inspección industrial Patente de invención Examen sustantivo: vigente, publicación CN202511661317.4 2025-11-12 CN121432670A 2026-01-30 Zeng Zhenhuang, Lin Jiamin, Chen Jianwei, Lu Shenglin
15 Dispositivo de alineación y detección del posicionamiento del producto y línea de detección de productos Patente de invención Examen sustantivo: vigente, publicación CN202511643065.2 2025-11-10 CN121383848A 2026-01-23 Zhang Zihao
16 Método y sistema de coincidencia de objetos de múltiples componentes basado en correspondencia de imágenes Patente de invención Examen sustantivo: vigente, publicación CN202511620404.5 2025-11-06 CN121095607A 2025-12-09 Zhong Hongyan, Pan Wei, Cao Ling, Huang Wei, Tang Yaru, Lu Shenglin
17 Método y sistema de coincidencia de componentes de caracteres basados en agrupamiento Patente de invención Examen sustantivo: vigente, publicación CN202511609110.2 2025-11-04 CN121214463A 2025-12-26 Zhong Hongyan, Pan Wei, Cao Ling, Huang Wei, Tang Yaru, Lu Shenglin
18 Método de coincidencia de objetivos subpíxel, dispositivo y medio de almacenamiento Patente de invención Examen sustantivo: vigente, publicación CN202511609094.7 2025-11-04 CN121259362A 2026-01-02 Zhong Hongyan, Pan Wei, Cao Ling, Huang Wei, Tang Yaru, Lu Shenglin
19 Un método y un dispositivo para la detección de arneses de cables Patente de invención Examen sustantivo: vigente, publicación CN202511590152.6 2025-10-31 CN121481953A 2026-02-06 Gao Hongchao, Yan Xiaoyan, Tan Miaquan
20 Un método y un dispositivo para la detección de arneses de cables Patente de invención Examen sustantivo: vigente, publicación CN202511590134.8 2025-10-31 CN121527001A 2026-02-13 Gao Hongchao, Tan Miaquan, Yan Xiaoyan
21 Fuente de luz multiposición y de altura ajustable en múltiples ángulos y dispositivo de inspección de placas PCB Patente de invención Examen sustantivo: vigente, publicación CN202511549809.4 2025-10-27 CN121090546A 2025-12-09 Zhang Zihao
22 Fuente de luz de inspección para visión artificial Patente de invención Examen sustantivo: vigente, publicación CN202511501742.7 2025-10-20 CN121007305A 2025-11-25 Zhong Chao, Zhuo De, Hu Wei
23 Método de mapeo lineal de color adaptativo de alto orden para imágenes de profundidad, sistema y medio Patente de invención Examen sustantivo: vigente, publicación CN202511477441.5 2025-10-15 CN121280538A 2026-01-06 Wang Boyuan, Pan Wei, Chen Lizhe, Tang Quan, Cao Ling, Lu Shenglin
24 Método de detección de defectos, sistema y medio legible por computadora de defectos basado en un modelo de iluminación de la geometría y renderizado de color por normales Patente de invención Examen sustantivo: vigente, publicación CN202511463869.4 2025-10-13 CN121280394A 2026-01-06 Pan Wei, Wang Boyuan, Chen Lizhe, Tang Quan, Cao Ling, Lu Shenglin
25 Método de alineación de vibración de fusión de imágenes de microscopio de gran profundidad de campo, sistema, medio legible por computadora y producto de programa informático Patente de invención Examen sustantivo: vigente, publicación CN202511446429.8 2025-10-10 CN121305553A 2026-01-09 Wang Boyuan, Pan Wei, Tong Hao, Tang Quan, Cao Ling, Lu Shenglin
26 Plataforma de detección de defectos basada en visión artificial y método de construcción Patente de invención Examen sustantivo: vigente, publicación CN202511414806.X 2025-09-29 CN121090545A 2025-12-09 Zhang Tengfei, Chen Jiangnan, Xiao Qi, Chang Huili, Li Jiangfeng
27 Dispositivo de inspección de una fuente de luz combinada y una lente Patente de invención Publicado CN202511405367.6 2025-09-28 CN121027119A 2025-11-28 Zhang Zihao
28 Sistema y método de calibración de depuración automatizada Patente de invención Concedida CN202511254300.7 2025-09-04 CN120777999B 2025-12-30 Qin Linyang, Pan Wei, Cao Ling, Lu Shenglin
29 Método de segmentación de conectividad de nubes de puntos mediante hash de voxel y unión-búsqueda, sistema, medio legible por computadora y producto de programa informático Patente de invención Concedida CN202511188327.0 2025-08-25 CN120782807B 2025-12-09 Pan Wei, Cao Ling, Tang Yaru, Zhou Renjie, Lu Shenglin
30 Lente compacta de aumento fijo con larga distancia de trabajo y su sistema óptico Patente de invención Examen sustantivo: vigente, publicación CN202511172490.8 2025-08-20 CN120821052A 2025-10-21 Lin Jiamin, Zeng Zhenhuang, Chen Jianwei, Lu Shenglin
31 Sensor de medición con un solo toque Patente de diseño Concedida CN202530486464.7 2025-08-18 CN309883191S 2026-03-31 Hu Wei, Hu Shihai, Wang Zhongyu
32 Método de procesamiento de imágenes, equipo, medio de almacenamiento y producto de programa Patente de invención Concedida, publicada CN202511106695.6 2025-08-08 CN120602766B 2025-10-14 Gao Hongchao, Lu Shenglin, Li Peiting, He Zhenzhen
33 Método de búsqueda de patrones de tejido basados en bocetos y datos, sistema, medio legible por computadora y producto de programa informático Patente de invención Publicado CN202511062507.4 2025-07-30 CN120950713A 2025-11-14 Pan Wei, Cao Ling, Lu Shenglin
34 Fuente de luz abovedada y dispositivo de inspección de superficie Patente de invención Examen sustantivo: vigente, publicación CN202511025356.5 2025-07-23 CN120868387A 2025-10-31 Zhong Chao, Hu Wei
35 Método de registro de nubes de puntos no supervisado basado en forma reversible - desacoplamiento espacial, sistema, medio legible por computadora y producto de programa informático Patente de invención Publicado CN202511025442.6 2025-07-23 CN120953330A 2025-11-14 Pan Wei, Feng Disheng, Cao Ling, Lu Xuequan, Lu Shenglin
36 Lente macro de cambio de aumento y su sistema óptico Patente de invención Concedida CN202511024611.4 2025-07-23 CN120610386B 2026-03-31 Zeng Zhenhuang, Lin Jiamin, Chen Jianwei, Lu Shenglin
37 Dispositivo de fuente de luz de esfera integral y dispositivo de inspección visual Patente de invención Examen sustantivo: vigente, publicación CN202510970352.8 2025-07-14 CN120926400A 2025-11-11 Zuo Mingyao
38 Método de suavizado de texturas periódicas con umbral adaptativo y restricciones de forma de posición, sistema, medio legible por computadora y producto de programa informático Patente de invención Examen sustantivo: vigente, publicación CN202510873959.4 2025-06-26 CN120807339A 2025-10-17 Zuo Xianglong, Pan Wei, Zhou Renjie, Cao Ling, Lu Shenglin
39 Método de gris reversible, sistema, medio legible por computadora y producto de programa informático basados en codificación de fusión de múltiples canales de dominio de bits Patente de invención Examen sustantivo: vigente, publicación CN202510772799.4 2025-06-10 CN120689197A 2025-09-23 Pan Wei, Wang Teng, Cao Ling, Lu Shenglin
40 Fuente de luz abovedada ajustable en ángulo y dispositivo de detección de visión artificial Patente de invención Examen sustantivo: vigente, publicación CN202510728262.8 2025-05-30 CN120295042A 2025-07-11 Zhong Chao, Ye Guanpeng
41 Método de detección de defectos de superficie compleja mediante combinación de desviación de fase y estereovisión fotométrica, sistema, medio legible por computadora y producto de programa informático Patente de invención Examen sustantivo: vigente, publicación CN202510687149.X 2025-05-26 CN120598883A 2025-09-05 Pan Wei, Cao Ling, Wang Teng, Tang Quan, Lu Shenglin
42 Objetivo de microscopio telecéntrico de gran NA con distancia de trabajo larga de 10x y su sistema óptico Patente de invención Concedida CN202510685253.5 2025-05-26 CN120335129B 2025-12-30 Chen Jianwei, Lu Shenglin
43 Lente telecéntrica de formato completo y su sistema óptico Patente de invención Examen sustantivo: vigente, publicación CN202510661628.4 2025-05-21 CN120255128A 2025-07-04 Chen Jianwei, Lu Shenglin
44 Objetivo industrial de alta resolución y baja distorsión y su sistema óptico Patente de invención Concedida CN202510578645.1 2025-05-06 CN120276122B 2025-12-30 Lin Jiamin, Zeng Zhenhuang, Lu Shenglin
45 Dispositivo de lentes para detección en múltiples ángulos de paredes internas y su sistema óptico Patente de invención Concedida CN202510578573.0 2025-05-06 CN120353003B 2026-02-10 Lin Jiamin, Chen Jianwei, Zeng Zhenhuang, Lu Shenglin
46 Una lámpara de proyección Modelo de utilidad Concedida CN202520815210.X 2025-04-27 CN224065326U 2026-03-31 Zhou Jie
47 Método para medir el volumen de un líquido de pegamento transparente, sistema, medio legible por computadora y producto de programa informático Patente de invención Examen sustantivo: vigente, publicación CN202510527086.1 2025-04-24 CN120212867A 2025-06-27 Cao Ling, Li Hao, Zhou Renjie, Wang Zimeng, Tang Quan, Pan Wei
48 Dispositivo de fuente de luz tipo colgante y dispositivo de inspección de botellas y recipientes Modelo de utilidad Concedida CN202520800641.9 2025-04-24 CN224065340U 2026-03-31 Zhang Zihao, Ye Guanpeng
49 Fuente de luz y módulo de inspección visual Modelo de utilidad Concedida CN202520800670.5 2025-04-24 CN224065320U 2026-03-31 Li Yangtao, Ye Guanpeng
50 Lente telecéntrica de gran campo de visión de formato completo y su sistema óptico Patente de invención Examen sustantivo: vigente, examen sustantivo: vigente, publicación CN202510512715.3 2025-04-22 CN120103588A 2025-06-06 Chen Jianwei, Lin Jiamin, Zeng Zhenhuang, Lu Shenglin

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Responsable: Xiaolang Kuaibao

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